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申请/专利权人：重庆康佳光电技术研究院有限公司
摘要：本申请涉及一种键合检测装置及方法，键合检测方法包括：在生长基板背向发光元件的一侧设置液晶组件；在液晶组件背向生长基板的一侧设置第一电极层，在第一电极层背向液晶组件的一侧设置第一偏振片；在暂态基板背向胶层的一侧设置第二电极层，在第二电极层背向暂态基板的一侧设第二偏振片，第一偏振片和第二偏振片的偏振方向正交；对第一偏振片照射均匀的光线，光线朝向第二偏振片的方向出射；对第一电极层和第二电极层通电，以使液晶组件的液晶产生偏转；在第二偏振片一侧检测出射的光线的均匀性，以检测胶层的厚度均匀性，设计思路简单，操作容易，可以判断生长基板和暂态基板绑定的效果。
主权项：1.一种键合检测方法，其特征在于，所述键合检测方法用于检测键合的生长基板和暂态基板，所述生长基板上的发光元件与所述暂态基板上的胶层连接；所述键合检测方法包括：在所述生长基板背向所述发光元件的一侧设置液晶组件；在所述液晶组件背向所述生长基板的一侧设置第一电极层，在所述第一电极层背向所述液晶组件的一侧设置第一偏振片；在所述暂态基板背向所述胶层的一侧设置第二电极层，在所述第二电极层背向所述暂态基板的一侧设第二偏振片，所述第一偏振片和所述第二偏振片的偏振方向正交；对所述第一偏振片照射均匀的光线，光线朝向所述第二偏振片的方向出射；对所述第一电极层和所述第二电极层通电，以使所述液晶组件的液晶产生偏转；在所述第二偏振片一侧接收出射的光线，用以检测所述胶层的厚度和均匀性。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 重庆康佳光电技术研究院有限公司 键合检测装置及方法
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