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检测体处理系统 

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申请/专利权人:株式会社日立高新技术

摘要:本发明提供一种检测体处理系统,其能通过简单的机构检测检测体容器是否开栓。具备:自动分析装置,其对检测体进行分析;前处理装置,其对所述检测体实施前处理;以及输送路,其在所述自动分析装置或者所述前处理装置中,输送收纳所述检测体的检测体容器,该检测体处理系统的特征在于,还具备单一传感器,该单一传感器以与所述检测体容器的长度方向正交的方式配置,检测所述检测体容器是否被开栓。

主权项:1.一种检测体处理系统,具备:自动分析装置,其对检测体进行分析;前处理装置,其对所述检测体实施前处理;以及输送路,其在所述自动分析装置与所述前处理装置之间、或者所述自动分析装置、所述前处理装置中,输送收纳所述检测体的检测体容器,该检测体处理系统的特征在于,还具备单一传感器,该单一传感器以与所述检测体容器的长度方向正交的方式配置,检测所述检测体容器是否被开栓,所述传感器具有放射高频磁场的检测线圈和检测所述高频磁场的状态变化的检测电路,基于由所述检测电路检测出的状态变化,检测所述检测体容器是否被密封栓闭栓,所述传感器还具有对所述检测线圈的外周面的至少一部分进行覆盖的屏蔽件,放射所述高频磁场的范围通过变更所述检测线圈与所述屏蔽件的相对位置来调整。

全文数据:

权利要求:

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