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申请/专利权人：深圳市烨兴智能空间技术有限公司
摘要：本申请涉及图像处理技术领域，公开了一种ETFE膜透光性评估方法、装置及存储介质，该方法包括：对多个样本ETFE膜进行多波段光谱扫描和透光率分析，得到标准化透光率向量；对待测ETFE膜进行多光谱成像，得到多波段图像并进行配准和预处理，得到预处理图像和目标频域系数；进行四元数离散余弦变换和二值化处理，得到目标二值特征矩阵并进行局部二值模式和熵计算，得到纹理熵特征；进行特征降维，得到降维特征向量，并对降维特征向量和标准化透光率向量进行特征融合，得到目标融合特征向量；将目标融合特征向量输入预训练的梯度提升决策树评估模型进行透光性评估，得到待测ETFE膜的透光性评估结果，进而提高了ETFE膜透光性评估的准确率。
主权项：1.一种ETFE膜透光性评估方法，其特征在于，所述ETFE膜透光性评估方法包括：对多个样本ETFE膜进行多波段光谱扫描和透光率分析，得到标准化透光率向量；对待测ETFE膜进行多光谱成像，得到多波段图像，并对所述多波段图像进行配准和预处理，得到预处理图像和目标频域系数；对所述目标频域系数进行四元数离散余弦变换和二值化处理，得到目标二值特征矩阵，并对所述预处理图像进行局部二值模式和熵计算，得到纹理熵特征；对所述目标二值特征矩阵和所述纹理熵特征进行特征降维，得到降维特征向量，并对所述降维特征向量和所述标准化透光率向量进行特征融合，得到目标融合特征向量；将所述目标融合特征向量输入预训练的梯度提升决策树评估模型进行透光性评估，得到所述待测ETFE膜的透光性评估结果。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 深圳市烨兴智能空间技术有限公司 ETFE膜透光性评估方法、装置及存储介质
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