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一种相变材料相变性能的激光测试系统和测试方法 

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申请/专利权人:山东大学

摘要:本发明公开了一种相变材料相变性能的激光测试系统和测试方法,属于相变材料测试技术领域。本发明提供了一种相变材料激光测试加工系统的设计和构造,该测试仪包括双波长激光单元、光学单元、检测单元和成像单元等组成部分,利用双波长激光系统,通过泵浦光产生热量诱导相变,同时使用低功率探测激光测量反射透射光的变化,用于精确测量和分析相变材料的开关性能、反射透射率的实时变化、循环特性等光学参数,该激光测试系统具有自动聚焦和图形打印功能,结构紧凑,功能丰富,自动化程度高,可广泛应用于相变材料的研究和应用中。

主权项:1.一种相变材料相变性能的激光测试系统,其特征在于,包括:激光单元、光学单元、成像单元、检测单元A和检测单元B;所述激光单元包括双激光器1、两个偏振控制器2、光波分复用器3和准直透镜4;所述双激光器1分别用于输出泵浦光和探测光,所述泵浦光和探测光分别进入一个所述偏振控制器2,然后依次进入光波分复用器3和准直透镜4,通过所述准直透镜4将光纤中输出光束转化为平行光束;所述光学单元用于仅透射平行光平行于平面的偏振分量光,再聚焦到相变材料21上,通过相变材料21反射后,所述光学单元将平行偏振光变换成垂直偏振光并反射偏转到检测单元A内,检测单元A用于检测相变材料21反射的光信号,进行数据的分析与处理;所述成像单元用于提供照明光束并接受光学单元反射的照明光信号,将光信号转换成图像信号进行成像采集;所述检测单元B用于检测相变材料21透射的偏振分量光光信号,进行数据的分析与处理;所述双激光器1包含两个半导体激光二极管,分别用于激发泵浦光和探测光,泵浦光的波长为660nm,探测光的波长为532nm;泵浦光工作在短脉冲模式,提供热量以提高温度并改变相变材料21的局部状态来诱导材料相变,而探测光则在连续波模式下以低功率运行,探测相变材料21反射率或反射光束偏振状态的变化,不会产生任何明显的加热,两束激光合束后对准相变材料上的一个点,利用高速光电探测器可以即时监测样品反射光的变化;所述光学单元包括偏振分光器5、14波片6、二向色镜7和显微镜物镜8,所述平行光束依次进入偏振分光器5、14波片6和二向色镜7,经显微镜物镜8聚焦到相变材料21上;所述偏振分光器5用于仅透射平行光的平行于平面的偏振分量光,经14波片6后变成圆偏振光,通过相变材料21反射后再次经14波片6偏转至垂直偏振光并被偏振分光器5反射偏转到检测单元A内;所述14波片6用于将偏振分量光的偏振态从线偏振变成圆偏振,以及将相变材料21反射的光变成垂直于平面的线偏振光;所述二向色镜7用于透射偏振分量光,反射成像单元的照明光进入显微镜物镜8中以及经相变材料21反射回来的成像单元的照明光再通过所述二向色镜7回到成像单元中;所述成像单元包括LED光源16、50:50分光镜17、第三聚焦透镜18和相机19,所述LED光源16用于提供照明光,照明光依次经50:50分光镜17和二向色镜7偏转到显微镜物镜8中,经显微镜物镜8聚焦到相变材料21上,通过相变材料21反射后的照明光再依次经过二向色镜7、50:50分光镜17和第三聚焦透镜18汇聚到相机19内,所述相机19用于对相变材料21进行成像。

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