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申请/专利权人：长春工程学院
摘要：本发明公开了一种基于多光谱成像技术检测绝缘子污秽等级的装置及方法，所述装置包括：摄像采集单元、漫反射板、补光装置、取景器、滤光单元、数据检测平台；所述方法包括：采集绝缘子污秽样本，并在暗室中用多光谱成像仪对绝缘子污秽进行成像处理，采集绝缘子的多光谱图像；检测前对正白板多光谱的图像数据进行黑白校正；对黑白校正后的图像进行提取物质的反射光谱和散射光谱进行多元散射校正；建立预测模型；判定绝缘子污秽等级；本发明采用的多光谱较高的光谱分辨率，可以检测的波段也比可见光成像的多，并且检测绝缘子污秽装置对采集样本无要求，并且在实践的过程也不繁琐，是较好的选择。
主权项：1.一种基于多光谱成像技术检测绝缘子污秽等级的方法，其特征在于，具体包括以下步骤：S1：采集绝缘子污秽样本，并在暗室中用多光谱成像仪对绝缘子污秽进行成像处理，采集绝缘子的多光谱图像；S2：检测前对正白板多光谱的图像数据进行黑白校正；S3：对S2中校正后的图像进行提取物质的反射光谱和散射光谱进行多元散射校正；S4：建立预测模型：建立检测模型将绝缘子污秽样本标签集光谱数据做标记，并且利用标签集的数据来建立起绝缘子污秽等级支持向量机检测主模型；用不同污秽的等级的样本标签集以及检测的集谱线数据来建立绝缘子污秽等级支持向量机检测模型；S5：判定绝缘子污秽等级：检测模型建立完成，完成对不同材质的绝缘子污秽样本检测集进行校正，通过检测模型，对不同材质的绝缘子污秽等级进行检测，通过显示平台得出不同绝缘子污秽的等级。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 长春工程学院 一种基于多光谱成像技术检测绝缘子污秽等级的装置及方法
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