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申请/专利权人：欣强电子(清远)股份有限公司
摘要：本发明涉及一种光模块连片板阻抗测试方法，在将光模块连片板的各单元小件设置为独立状态，并将单元小件的通道选取设置为测试状态，作为待测连片板后，选取待测连片板中的部分单元小件，作为待测小件，对待测小件的通道进行阻抗测试。基于此，在保证阻抗测试效果的同时，降低光模块连片板阻抗测试所需要测试通道数量，降低测试工作量并提高测试效率，并降低测试损耗。
主权项：1.一种光模块连片板阻抗测试方法，其特征在于，包括步骤：根据阻抗均匀性筛选光模块连片板，保留阻抗稳定的且适宜进行阻抗测试的光模块连片板；其中，所述阻抗均匀性包括光模块连片板的基板厚度一致性、光模块连片板的面铜分布规律或者光模块连片板的阻抗线宽分布规律；将光模块连片板的各单元小件设置为独立状态，并将所述单元小件的通道选取设置为测试状态，作为待测连片板；其中，光模块连片板包括多个单元小件，各单元小件具备用于阻抗测试的通道；独立状态包括将单元小件设置为可独立打开或关闭的状态，测试状态包括将单元小件的通道选取设置为可更改状态；选取所述待测连片板中的部分单元小件，作为待测小件；其中，选取所述待测连片板中边角位置和中心位置的单元小件作为待测小件，或者选取所述待测连片板中边角位置的单元小件作为待测小件；对所述待测小件的通道进行阻抗测试；其中，通过阻抗测试机台对所述待测小件的通道进行阻抗测试；根据在所述阻抗测试中出现问题的待测小件划分问题区域，并对问题区域内的全部待测小件进行二次阻抗测试，以确定测试遗漏点；其中，以通道的传输方向或影响范围划分问题区域。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 欣强电子(清远)股份有限公司 光模块连片板阻抗测试方法
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