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偏光膜缺陷检测系统 

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申请/专利权人:恒美光电股份有限公司

摘要:本申请涉及一种偏光膜缺陷检测系统,包括:相机组件、灯源组件、架台组件、图像处理组件、控制组件,其中:在紧邻所述直交灯源机构的上方设置灯源偏光镜组件,所述灯源偏光镜组件使所述直交灯源机构的照射光线与所述待检测偏光膜的膜面的角度为80°~90°。将传统设置在直交相机镜头上的偏光镜改为设置在直交灯源机构的灯源上方,可以兼顾偏光膜亮点和歪点的检出效果。

主权项:1.一种偏光膜缺陷检测系统,其特征在于,包括:相机组件,所述相机组件用于接收待检测偏光膜不同缺点反馈的光亮;灯源组件,所述灯源组件用于提供打光亮度,并引导光源照射所述待检测偏光膜,所述灯源组件包括直交灯源机构;架台组件,所述架台组件用于固定所述相机组件和所述灯源组件,并引导所述待检测偏光膜的流向;图像处理组件,所述图像处理组件连接所述相机组件,用于接收由所述相机组件传送的所述待检测偏光膜缺点图像,并以缺点坐标和图像的方式进行呈现;控制组件,所述控制组件连接所述灯源组件,用于控制所述灯源组件;其中:在紧邻所述直交灯源机构的上方设置灯源偏光镜组件,所述灯源偏光镜组件使所述直交灯源机构的照射光线与所述待检测偏光膜的膜面的角度为80°~90°。

全文数据:

权利要求:

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