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申请/专利权人:上海兴软信息技术有限公司
摘要:本发明涉及电子雷管技术领域,具体涉及电子雷管延期模块发火元件精密测量电路及其方法,包括电源DC1、开关S1、恒流源U1、电阻R10、发火元件Rs、接触电阻R1、接触电阻R2、接触电阻R3、接触电阻R4、放大器、ADC、顶针1、顶针2、顶针3、顶针4、测试点TP1、测试点TP2、测试点TP3和测试点TP4,该电路采用四顶针的方式来测量发火元件的阻值,其中两顶针将被测发火元件串入恒流源的回路中,那么发火元件两端的电压只和恒流源电流有关,另外两顶针用来将发火元件两端接入运算放大器的输入端来采样发火元件两端的电压,解决顶针和测试焊盘测试点间接触阻抗带来的影响,且电路简单成本低,一次采样就可以完成测试,生产效率高。
主权项:1.电子雷管延期模块发火元件精密测量电路,其特征在于,包括电源DC1、开关S1、恒流源U1、电阻R10、发火元件Rs、接触电阻R1、接触电阻R2、接触电阻R3、接触电阻R4、放大器、模数转换器、顶针1、顶针2、顶针3、顶针4、测试点TP1、测试点TP2、测试点TP3和测试点TP4;所述开关S1分别与所述电源DC1、所述电阻R10和所述恒流源U1连接,所述电阻R10和所述恒流源U1连接,所述发火元件Rs分别与所述测试点TP1、所述测试点TP2、所述测试点TP3和所述测试点TP4连接,所述顶针1分别与所述恒流源U1和所述接触电阻R1连接,所述接触电阻R1与所述测试点TP1连接,所述接触电阻R3分别与所述测试点TP3和所述顶针3连接,所述接触电阻R2分别与所述测试点TP2和所述顶针2连接,所述接触电阻R4分别与所述测试点TP4和所述顶针4连接,所述放大器分别与所述顶针2、所述顶针4和所述ADC连接。
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