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不均匀光照条件下的双目视觉锪窝孔几何参数测量方法 

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申请/专利权人:上海大学

摘要:本发明涉及一种不均匀光照条件下的双目视觉锪窝孔几何参数测量方法,包括以下步骤:构建HED边缘检测模型,对双目相机拍摄的待测孔图像进行边缘检测,得到粗边缘结果;提取粗边缘的骨架信息以细化边缘;基于八邻域跟踪法对细化后的边缘进行进一步后处理,得到单一边界点集,对单一边界点集通过角点分割并重新连接曲线段以优化出满足条件的曲线段;基于孔表面的不均匀光照特性选取最优曲线段进行锪窝孔拟合;依据双目图像中的锪窝孔拟合结果重建孔的三维特征并求解孔的几何参数。与现有技术相比,本发明具有等优点。

主权项:1.一种不均匀光照条件下的双目视觉锪窝孔几何参数测量方法,其特征在于,包括以下步骤:步骤1构建HED边缘检测模型,对双目相机拍摄的待测孔图像进行边缘检测,得到粗边缘结果;步骤2提取粗边缘的骨架信息以细化边缘;步骤3基于八邻域跟踪法对细化后的边缘进行进一步后处理,得到单一边界点集,对单一边界点集通过角点分割并重新连接曲线段以优化出满足条件的曲线段;步骤4基于孔表面的不均匀光照特性选取最优曲线段进行锪窝孔拟合;步骤5依据双目图像中的锪窝孔拟合结果重建孔的三维特征并求解孔的几何参数。

全文数据:

权利要求:

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