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申请/专利权人:常州银河电器有限公司
摘要:本发明涉及一种正六角芯片加工工艺,步骤如下:规划区域,一次光刻,湿法腐蚀,二次光刻,电泳钝化,LTO氧化,三次光刻,表面镀层,测试和划切。本发明生产出的六角芯片对比之前在同尺寸下,芯片及焊接面积更大,相应的浪涌水平更好,耐大电流能力强,更有助于均匀的分布热量,改善散热效果,而且六角芯片外围为大钝角,相对于方型芯片,耐冲压及应力能力更强,在同步压力下,四角芯片的直角极易破损断裂。在封装时,六角芯片在石墨舟内便于引线装架操作。
主权项:1.一种正六角芯片加工工艺,其特征在于:步骤如下:S1、规划区域:在光刻板表面刻出多个加工单元,并在版图上的每个芯片加工单元上分出空白区、开槽区和划片区,空白区呈正六边形,所述开槽区沿空白区的外周设置,所述划片区沿开槽区的外周设置;S2、一次光刻:对光刻板上的版图进行匀胶、光刻和显影作业,使空白区域覆盖有光刻胶;S3、湿法腐蚀:对光刻板进行湿法腐蚀,将空白区以外的区域腐蚀成槽;S4、二次光刻,对光刻板上的版图进行匀胶、光刻和显影作业,使空白区和划片区覆盖有光刻胶;S5、电泳钝化,对光刻板进行电泳钝化和LTO氧化,在开沟槽的底内部,侧面及台面边缘生成玻璃层,同时空白区的光刻胶在电泳的高温下燃烧去除,空白区与开槽区的交界处形成玻璃环;S6、LTO氧化,将玻璃环区域进行氧化处理;S7、三次光刻,对光刻板上的版图进行匀胶、光刻和显影作业,空白区以外的区域覆盖有光刻胶,空白区表面不覆盖光刻胶;S8、表面镀层,在空白区的表面金属化的镀镍、镀金和镀钛镍银;S9、测试和划切,进行相关性能的测试,并沿划片区切割,将整板划切成芯片。
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