买专利卖专利找龙图腾,真高效! 查专利查商标用IPTOP,全免费!专利年费监控用IP管家,真方便!
申请/专利权人:中科苏州微电子产业技术研究院
摘要:本发明涉及一种基于相空间重构的电子元器件的故障判断方法、装置、电子设备及存储介质,方法包括:获取按电子元器件编号排列的多项参数测试数据的矩阵;将测试数据按照某一自变量参数进行排序,对其他所有参数列按照时间延迟嵌入法绘制二维或三位相空间轨迹图形;计算各因变量参数数据序列的相空间重构轨迹;对于确定的每个元件种子参数,计算测试数据恢复在相轨迹图上与原相轨迹整体的距离dist,如果该距离大于某一阈值,则判断为故障元件;反之,若小于该阈值,则判断为正常元件。可以一次性处理所有电子元器件测试数据,并从系统层面对电子元器件状态的展示和可能故障,实现对工艺过程的诊断和早期故障预防。
主权项:1.一种基于相空间重构的电子元器件的故障判断方法,其特征在于,其包括以下步骤:a.将电子元器件按顺序编号,获取按电子元器件编号排列的多项参数的测试数据矩阵,该测试数据矩阵X为m×n维,如下: 测试数据矩阵的每一行代表某一个电子元器件对所有可用参数的测试数据样本,每一列表示某可用参数对所有电子元器件的测试数据;m是样本的数量,n是参数的个数;b.从测试的所有参数中选择一个参数作为自变量参数,并将该列按照从小到大进行排序,同时X中的其他所有参数列也按照此顺序排列,得到矩阵Y: 假设将第一个参数作为自变量参数,那么将矩阵X的第一列x1=[x11x21…xm1]τ进行从小到大的排序得到Y的第一列y1=[y11y21…ym1]τ,矩阵X除了第一列以外的其他所有列的顺序需按照此顺序重新排列,得到矩阵Y的除了第一列以外的所有列,所有其他列为因变量参数数据序列;c.计算各因变量参数数据序列的相空间重构轨迹;d.获取新的参数测试数据,若新的参数测试数据不在所述相空间重构轨迹上,则认定该电子元器件是有故障的;反之则无故障。
全文数据:
权利要求:
百度查询: 中科苏州微电子产业技术研究院 基于相空间重构的电子元器件的故障判断方法、装置、电子设备及存储介质
免责声明
1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息,力求客观、公正,但并不保证数据的最终完整性和准确性。
2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解,仅供参考使用,不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。