龙图腾网&IPTOP
- 微信扫码登录
- 账号密码登录
- 短信登录/注册
买专利卖专利找龙图腾，真高效！ 查专利查商标用IPTOP,全免费！专利年费监控用IP管家,真方便！
申请/专利权人：华南理工大学
摘要：本发明提供了一种可调节入射角度的材料常温方向发射率测量装置及方法，包括光源，光路系统设置于光源入射方向上；光谱探测器设置于光路系统的光路射出方向上。本发明采用上述的一种可调节入射角度的材料常温方向发射率测量装置及方法，能够快速准确测量在不同方向入射光条件下室温下材料表面各个方向的反射强度，进而根据基尔霍夫定律计算各个方向的发射率，测量时间短，能够适用于各种光滑和粗糙的材料表面。
主权项：1.一种可调节入射角度的材料常温方向发射率测量装置，其特征在于，包括光源，光路系统设置于光源入射方向上；光谱探测器设置于光路系统的光路射出方向上；所述光路系统包括固定设置在光传输方向的固定平面反射镜、半球抛物面镜，移动设置的第二平面反射镜。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 华南理工大学 一种可调节入射角度的材料常温方向发射率测量装置及方法
免责声明
1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息，力求客观、公正，但并不保证数据的最终完整性和准确性。
2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。
主营中国专利交易买卖与专利转让许可,高校科技成果推广与科技成果转化,知识产权运营管理与平台开发,科技人才专家库与科技猎头等科技服务
开放平台
担保交易
惠及多方
会员特惠
专属平台
适合多方
数据共享
功能齐全
皖公网安备 34010402703815号