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MRAM磁干扰诊断系统 

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申请/专利权人:恩智浦美国有限公司

摘要:本公开涉及MRAM磁干扰诊断系统。提供了一种磁阻随机存取存储器MRAM诊断系统的实施例,其包括:在诊断模式期间将MRAM单元阵列中的所有位单元预处理为数据值一,其中所述MRAM单元阵列在半导体衬底的有源侧中实施;在所述预处理之后,将具有预定场强的第一磁干扰场施加到所述MRAM单元阵列,其中所述第一磁干扰场由天线生成,所述天线在所述半导体衬底的所述有源侧上方的多个导电和介电材料层中实施;在所述施加所述第一磁干扰场之后,执行第一纠错码ECC读取操作以读取所述MRAM单元阵列;以及响应于在所述第一ECC读取操作期间检测到至少一个不可纠正的读取,设置失效状态并退出所述诊断模式。

主权项:1.一种用于操作磁阻随机存取存储器MRAM诊断系统的方法,其特征在于,所述方法包括:在诊断模式期间将MRAM单元阵列中的所有位单元预处理为数据值一,其中所述MRAM单元阵列在半导体衬底的有源侧中实施;在所述预处理之后,将具有预定场强的第一磁干扰场施加到所述MRAM单元阵列,其中所述第一磁干扰场由天线生成,所述天线在所述半导体衬底的所述有源侧上方的多个导电和介电材料层中实施;在所述施加所述第一磁干扰场之后,执行第一纠错码ECC读取操作以读取所述MRAM单元阵列;以及响应于在所述第一纠错码ECC读取操作期间检测到至少一个不可纠正的读取,设置失效状态并退出所述诊断模式。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 恩智浦美国有限公司 MRAM磁干扰诊断系统

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