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一种达林顿晶体管检测方法及系统 

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申请/专利权人:中电中南(武汉)计量检测有限公司

摘要:本发明提出了一种达林顿晶体管检测方法,包括:初始化并校准测试平台;测试输出漏电流,在晶体管对应的测试引脚施加输入电压,并根据温度选择测试模式进行循环测试,分别计算得到不同测量模式的输出漏电流合格阈值,以判断输出漏电流是否合格,所述测试模式包括高温测试模式和常温测试模式;给定集电极‑发射极电压下,根据用户输入或默认参数设置集电极电流,测试晶体管在不同集电极电流下的输入电压是否合格;该达林顿晶体管检测方法通过动态调整程序以减少测试人员测试时的频繁操作和错误率,同时在测试高精度项时,通过多次循环测试,计算合成不确定度,提高了测试参数的精度,增加测试的稳定性。

主权项:1.一种达林顿晶体管检测方法,其特征在于,所述方法包括以下步骤:S1,初始化并校准测试平台;S2,测试输出漏电流,在晶体管对应的测试引脚施加输入电压,并根据温度选择测试模式进行循环测试,分别计算得到不同测量模式的输出漏电流合格阈值,以判断输出漏电流是否合格,所述测试模式包括高温测试模式和常温测试模式;S3,给定集电极-发射极电压下,根据用户输入或默认参数设置集电极电流,测试晶体管在不同集电极电流下的输入电压是否合格;S4,通过选择单电压模式或电压电流模式,分别对晶体管对应的测试引脚的输入电压,检测导通状态输入电流是否合格;S5,若处于高温测试模式下,对晶体管对应的测试引脚施加输入电流,并检测相应的晶体管测试引脚的关断输入电流,检测关断状态输入电流是否合格,否则进行步骤S6;S6,将输入电压分别施加至晶体管对应的输入端测试引脚,将输出电流分别施加于晶体管对应的输出端引脚,检测输入端电流,计算输入端电流与输出电流的比值,得到电流增益,并检测电流增益是否合格;S7,输出测试文件,记录测试结果。

全文数据:

权利要求:

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