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申请/专利权人：杭州涿溪脑与智能研究所
摘要：本申请提供了一种异向导电膜键合导电粒子的检测方法、装置、设备及介质，根据本申请的方法包括：获取包含导电粒子的原始图像；通过模板匹配方式在原始图像中获取含有导电粒子的图像区域作为待检测区域；根据预先设置的基于深度学习的像素级回归算法，获取待检测区域导电粒子概率图像，对导电粒子概率图像进行二值化处理，获取二值化图像；在二值化图像上采用连通域标记算法获取每个导电粒子的位置，进而获取待检测区域中导电粒子的数量，根据导电粒子的数量判断导电膜键合的质量。本申请提供的技术方案可解决传统算法鲁棒性差，检测不准确的问题。
主权项：1.一种异向导电膜键合导电粒子的检测方法，其特征在于包括：获取包含导电粒子的原始图像；通过模板匹配方式在所述原始图像中获取含有导电粒子的图像区域作为待检测区域；根据预先设置的基于深度学习的像素级回归算法获取所述待检测区域的导电粒子概率图像，对所述导电粒子概率图像进行二值化处理，获取二值化图像；在所述二值化图像上采用连通域标记算法获取每个导电粒子的位置，进而获取待检测区域中导电粒子的数量，以及，根据所述导电粒子的数量判断导电膜键合的质量。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 杭州涿溪脑与智能研究所 异向导电膜键合导电粒子的检测方法、装置、设备及介质
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