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申请/专利权人：合肥工业大学
摘要：本发明公开了一种局部‑全局可见性分析的X光图像遮挡目标检测方法。本发明使用YOLOv8，提取局部块特征，并计算多种局部的可见性mask，和局部的可见性特征。本发明计算局部块之间的全局关系，并计算多种全局的可见性mask，和全局的可见性特征。为了验证遮挡目标情况下，可见性mask估计的准确性，本方法在训练目标检测模型时，额外计算局部‑全局可见性mask损失，和遮挡得分梯度调整损失。本发明考虑了局部‑全局可见性mask损失，和梯度调整损失，可以有效分析目标的可见性mask，缓解遮挡目标的漏检。
主权项：1.一种基于局部-全局可见性分析的X光图像遮挡目标检测方法，其特征在于：具体包括以下步骤：S1：提取X光图像局部的可见性特征；S2：提取X光图像全局的可见性特征；S3：利用局部可见性特征和全局可见性特征生成预测框；S4：训练可见性注意力模型；S5：利用可见性注意力模型检测X光图像遮挡目标类别。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 合肥工业大学 基于局部-全局可见性分析的X光图像遮挡目标检测方法
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