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申请/专利权人：成都佰维存储科技有限公司
摘要：本发明公开了一种长时间性能测试方法、装置、可读存储介质及电子设备，基于预设测试时长以预设数据量为单位对待测存储器进行顺序读写操作，并记录顺序读写操作的顺序读写性能数据，预设测试时长大于或等于30天，计算所有顺序读写性能数据的中位数，并计算每一顺序读写性能数据与中位数的差值，基于所有差值绘制生成置信级图，基于置信级图与中位数确定所述待测存储器的测试结果，利用中位数可以有效反馈性能数据分布集中的趋势，通过置信级图的方式将各性能数据与中位数的差值直观展示出来，基于置信级图与中位数确定测试结果，能够有效地判断存储器的长时间性能的稳定性，从而实现可靠且有效的长时间性能测试。
主权项：1.一种长时间性能测试方法，其特征在于，包括步骤：基于预设测试时长以预设数据量为单位对待测存储器进行顺序读写操作，并记录所述顺序读写操作的顺序读写性能数据，所述预设测试时长大于或等于30天；计算所有所述顺序读写性能数据的中位数，并计算每一所述顺序读写性能数据与所述中位数的差值；基于所有所述差值绘制生成置信级图；基于所述置信级图与所述中位数确定所述待测存储器的测试结果。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 成都佰维存储科技有限公司 长时间性能测试方法、装置、可读存储介质及电子设备
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