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申请/专利权人：索尼半导体解决方案公司
摘要：本技术涉及一种测距装置、测距方法和程序，其可以减小干扰的影响并且可以精确地执行距离测量。所述测距装置包括：发光部，其发出照射光；受光部，其接收由所述照射光在目标对象上的反射而产生的反射光；计算部，其基于从所述照射光的发出到所述反射光的接收的时间来计算距所述目标对象的距离；和发光控制部，其控制所述发光部，其中所述发光控制部通过在预定的帧内切换第一发光模式和不同于第一发光模式的第二发光模式来控制所述发光部的发光。例如，本技术可以适用于执行距离测量的测距装置。
主权项：1.一种测距装置，包括：发光部，其发出照射光；受光部，其接收由所述照射光在目标对象上的反射而产生的反射光；计算部，其基于从所述照射光的发出到所述反射光的接收的时间来计算距所述目标对象的距离；和发光控制部，其控制所述发光部，其中所述发光控制部通过在预定的帧内切换第一发光模式和不同于第一发光模式的第二发光模式来控制所述发光部的发光，其中所述预定的帧具有第一子帧和第二子帧，并且所述发光控制部在第一子帧中适用第一发光模式并且在第二子帧中适用第二发光模式。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 索尼半导体解决方案公司 测距装置、测距方法和程序
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