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一种衰减全反射红外光谱用切片制样装置 

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申请/专利权人:上海佰奥聚新材料科技有限公司

摘要:本实用新型公开一种衰减全反射红外光谱用切片制样装置,其特征在于,包括:一切片底座,在所述切片底座上对称设置的若干弧形夹具,所述弧形夹具的夹紧或脱开通过对应旋紧机构进行调整;一刀具组通过设置在所述弧形夹具上端的刀具支撑机构对所述刀具组的外周向的支撑以及刀具下放的限位;所述刀具组的单一刀具之间设置有切割空隙且所述单一刀具的非切割部进行固定。本实用新型能够对具有弹性难以粉碎的固体样品进行切片制样,从而获得平整的切面,是一种理想的红外ATR晶体制样的方式。本发明制样装置只需要低于0.5克以下的样品,对一些难以制样的聚氨酯弹性体和弹性塑料粒子都能够进行快速有效的制样。

主权项:1.一种衰减全反射红外光谱用切片制样装置,其特征在于,包括:一切片底座,在所述切片底座上对称设置的若干弧形夹具,所述弧形夹具的夹紧或脱开通过对应旋紧机构进行调整;一刀具组通过设置在所述弧形夹具上端的刀具支撑机构对所述刀具组的外周向的支撑以及刀具下放的限位;所述刀具组的单一刀具之间设置有切割空隙且所述单一刀具的非切割部进行固定。

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