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申请/专利权人：深圳芯邦科技股份有限公司
摘要：本申请实施例公开了一种存储器测试电路、存储器测试方法和相关装置，用于对存储器进行测试。本申请实施例电路包括：联合测试工作组JTAG接口和多级存储器内建自测试MBIST模组；各级MBIST模组串联，每一级MBIST模组均连接有各自对应的至少一个存储器；第一级MBIST模组的输入端接JTAG接口，最后一级MBIST模组的输出端接JTAG接口，以在第一级MBIST模组的输入端接收到JTAG接口发送的多个测试向量时，根据每一个测试向量的MBIST组编号信息将测试向量分配至每一级MBIST模组，每一级MBIST模组基于各自的测试向量对所连接的存储器进行测试得到测试结果，再将每一级MBIST模组的测试结果汇总并从最后一级MBIST模组的输出端发送至JTAG接口。
主权项：1.一种存储器测试电路，其特征在于，包括：联合测试工作组JTAG接口和多级存储器内建自测试MBIST模组；各级所述MBIST模组串联，每一级所述MBIST模组均连接有各自对应的至少一个存储器；第一级MBIST模组的输入端接所述JTAG接口，最后一级MBIST模组的输出端接所述JTAG接口，以在所述第一级MBIST模组的输入端接收到所述JTAG接口发送的多个测试向量时，根据每一个所述测试向量的MBIST组编号信息将所述测试向量分配至每一级所述MBIST模组，每一级所述MBIST模组基于各自的所述测试向量对所连接的存储器进行测试得到测试结果，再将每一级所述MBIST模组的所述测试结果汇总并从所述最后一级MBIST模组的输出端发送至所述JTAG接口。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 深圳芯邦科技股份有限公司 一种存储器测试电路、存储器测试方法和相关装置
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