买专利卖专利找龙图腾,真高效! 查专利查商标用IPTOP,全免费!专利年费监控用IP管家,真方便!
申请/专利权人:北京理工大学
摘要:本发明涉及精密测量领域,具体涉及一种大型零件任意位置结合面几何分布误差精密测量装置,包括:底架、大范围转动调整组件、微动调整组件、二维运动组件、位移传感器。其中,大范围转动调整组件包括转动驱动机构、转轴安装座A、转轴安装座B、转轴,用于绕X轴的大范围角度与微角度调整;微动调整组件包括升降机构A、升降机构B、同步连接轴、安装底板、转动铰链A、转动铰链B、转轴套A、输出调整板、转轴套B,用于绕Y轴的微角度调整;二维运动组件包括传感器安装座、模组转接座A、模组转接座B、Y方向运动模组、X方向辅助运动模组、X方向运动模组。此装置操作简单,可用于大型零件任意位置结合面几何分布误差的精密测量。
主权项:1.一种大型零件任意位置结合面几何分布误差精密测量装置,其特征在于:包括:底架1,大范围转动调整组件2,微动调整组件3,二维运动组件4,位移传感器5;二维运动组件结构4由传感器安装座401,模组转接座A402,模组转接座B403,Y方向运动模组404,X方向辅助运动模组405,X方向运动模组406组成,用于驱动位移传感器5二维运动实现扫描测量;位移传感器5安装在二维运动组件4上;二维运动组件4安装在微动调整组件3上;微动调整组件3安装在大范围转动调整组件2上;大范围转动调整组件2安装在底架1上。
全文数据:
权利要求:
百度查询: 北京理工大学 一种大型零件任意位置结合面几何分布误差精密测量装置
免责声明
1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息,力求客观、公正,但并不保证数据的最终完整性和准确性。
2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解,仅供参考使用,不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。