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申请/专利权人:武汉新芯集成电路股份有限公司
摘要:本申请公开了一种半浮栅晶体管的制备方法、半浮栅晶体管及存储器件,该半浮栅晶体管的制备方法包括:提供基体,在基体的第一表面上设置有栅极绝缘层;在栅极绝缘层上形成第一栅极;去除从第一栅极中露出的部分栅极绝缘层以形成接触窗口;至少在接触窗口位置处形成第二栅极,第一栅极和第二栅极构成半浮栅晶体管的半浮栅层。通过上述方式,可以提高半浮栅晶体管接触窗口最终线宽的一致性。
主权项:1.一种半浮栅晶体管的制备方法,其特征在于,包括:提供基体,在所述基体的第一表面上设置有栅极绝缘层;在所述栅极绝缘层上形成第一栅极;去除从所述第一栅极中露出的部分所述栅极绝缘层以形成接触窗口;至少在所述接触窗口位置处形成第二栅极,所述第一栅极和所述第二栅极构成所述半浮栅晶体管的半浮栅层;所述至少在所述接触窗口位置处形成第二栅极的步骤包括:在所述栅极绝缘层、所述接触窗口和所述第一栅极上形成第二栅极材料层;对所述第二栅极材料层进行无掩膜刻蚀,直至所述接触窗口内的所述第二栅极的宽度为预设线宽;在所述第一栅极指向所述第二栅极的方向上,所述第二栅极远离所述第一栅极的一侧表面为凸弧。
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百度查询: 武汉新芯集成电路股份有限公司 一种半浮栅晶体管的制备方法、半浮栅晶体管及存储器件
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