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摘要：本发明公开了一种检测填充单元缺失的方法，其特征在于，包括以下步骤：获取芯片设计版图，包括芯片内核区域和布局区域；对芯片内核区域和布局区域做减法运算，获得填充单元缺失的空白区域；对芯片设计版图进行设计规则检查，获得空白区域存在的所有填充单元缺失错误；过滤掉填充单元缺失错误中的假性错误，得到填充单元缺失错误中的真实错误；定位存在真实错误的空白区域。本发明提供的技术方案，能够检测芯片设计版图里是否有填充单元缺失，即空白区域；且检测出来后，过滤掉其中的假错；之后能够方便用户直接在GUI里面去定位每个问题，方便进行后续处理；无需人工去一一确认，能有效地提高处理效率，节约时间。
主权项：1.一种检测填充单元缺失的方法，其特征在于，包括以下步骤：获取芯片设计版图，包括芯片内核区域和布局区域；对芯片内核区域和布局区域做减法运算，获得填充单元缺失的空白区域；对芯片设计版图进行设计规则检查，获得空白区域存在的所有填充单元缺失错误；过滤掉填充单元缺失错误中的假性错误，得到填充单元缺失错误中的真实错误；定位存在真实错误的空白区域。
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百度查询： 上海盈方微电子有限公司 一种检测填充单元缺失的方法、系统及计算机程序
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