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摘要:本实用新型公开了一种芯片性能检测装置,涉及芯片检测技术领域。本实用新型包括机体,所述机体上端滑动安装有滑台,所述滑台底端位置安装有动力机构,所述动力机构安装在机体上侧,所述机体上端中间位置安装有支架,所述支架之间安装有第一移动机构,所述第一移动机构底端安装有第二移动机构,所述第二移动机构底端安装有检测机构,所述滑块上侧设置有两个放置槽。本实用新型在检测的同时,可以将另一放置槽内部的放置盘进行取出,或者将放有未检测物料的放置盘放置在放置槽内部,检测完成之后,通过动力机构带动滑台进行移动,直接将未检测的物料移动至检测机构下方,从而能够节省上下料的时间,快速的进行下一轮检测。
主权项:1.一种芯片性能检测装置,其特征在于,包括机体1,所述机体1底端四周安装有调平机构2,所述机体1上端滑动安装有滑台11,所述滑台11底端位置安装有动力机构7,所述动力机构7安装在机体1上侧,所述机体1上端中间位置安装有支架12,所述支架12之间安装有第一移动机构13,所述第一移动机构13底端安装有第二移动机构14,所述第二移动机构14底端安装有检测机构24,所述滑台11上侧设置有两个放置槽18,所述放置槽18内部放置有放置盘16,所述放置槽18四周位置安装有夹持机构15。
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百度查询: 上海骋川电子科技有限公司 一种芯片性能检测装置
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