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摘要：本发明提供一种基于低成本FPGA的芯片DFT测试方法，涉及集成电路测试技术领域，其主要步骤为：开机或切换测试脚本ATP文件；上位机对FPGA板卡内部状态机寄存器复位；上位机对测试脚本ATP文件解析，FPGA板卡接收Pattern并在本地存储器中展开；FPGA板卡根据Pattern对被测芯片设备进行测试，采集被测芯片设备的输出信号；FPGA板卡本地存储器中记录的采集条目传给上位机，上位机收到采集条目并写入输出文件；结束DFT测试。本发明还提供了一种基于低成本FPGA的芯片DFT测试系统。本发明把测试模板文件的调试由产线机台设备转为低成本FPGA板卡，从而缩短了芯片研制到批量之间的转产时间。
主权项：1.一种基于低成本FPGA的芯片DFT测试方法，其特征在于，包括下述步骤：S1、开机或切换测试脚本ATP文件；S2、进入复位模式，即上位机对FPGA板卡内部状态机寄存器进行复位；S3、进入装载模式，即上位机对机台测试脚本ATP文件进行解析，FPGA板卡接收上位机通过RS232或IP网络下发的ATP文件条目即Pattern，并把所述Pattern在FPGA板卡的本地存储器中展开；S4、进入运行模式，即通过FPGA板卡根据所述Pattern对被测芯片设备进行DFT测试，同时采集被测芯片设备的输出信号；S5、进入卸载模式，即把FPGA板卡本地存储器中记录的采集条目，通过RS232或IP网络逐条传给上位机，上位机收到所述采集条目并写入输出文件，所述输出文件用于分析调试结果、或者判定测试结果；S6、判断是否重复运行同一个Pattern，若是，则转至步骤S4，否则转至步骤S7；S7、判断是否进行下一个Pattern，若是，则转至步骤S2，否则转至步骤S8；S8、关机，结束DFT测试。
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百度查询： 成都华微电子科技股份有限公司 一种基于低成本FPGA的芯片DFT测试方法及系统
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