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摘要：本发明涉及一种适于嵌入式集成电路测试的数字程控电源及供电测试方法。其包括：基准电压生成单元，程控产生可调的测试基准电压；低压差稳压LDO单元，接收基准电压生成单元加载的测试基准电压，并基于所述测试基准电压向所连接的待测电路DUT提供目标测试电压；隔离采样反馈单元，用于对加载到待测电路DUT电源端的目标测试电压采样，并将采样生成的测试采样电压负反馈至低压差稳压LDO单元，以使得低压差稳压LDO单元在测试采样电压下向待测电路DUT提供稳定的目标测试电压，其中，对目标测试电压采样时，目标测试电压与测试采样电压间相互隔离。本发明可满足嵌入式集成电路的测试需求，降低测试成本，提高测试的精度以及可控性。

主权项：1.一种适于嵌入式集成电路测试的数字程控电源，其特征是，所述数字程控电源包括：基准电压生成单元，程控产生可调的测试基准电压，并将所产生的测试基准电压加载到低压差稳压LDO单元；低压差稳压LDO单元，与基准电压生成单元以及待测电路DUT适配连接，接收基准电压生成单元加载的测试基准电压，并基于所述测试基准电压向所连接的待测电路DUT提供目标测试电压；隔离采样反馈单元，与待测电路DUT以及低压差稳压LDO单元适配连接，用于对加载到待测电路DUT电源端的目标测试电压采样，并将采样生成的测试采样电压负反馈至低压差稳压LDO单元，以使得低压差稳压LDO单元在测试采样电压下向待测电路DUT提供稳定的目标测试电压，其中，对目标测试电压采样时，目标测试电压与测试采样电压间相互隔离；所述基准电压生成单元包括电压输出型DAC单元、电压基准单元以及嵌入式单元，其中，电压基准单元提供电压输出型DAC单元工作所需的供电基准电压；电压基准单元包括依次连接的低噪声LDO芯片、同相放大器单元以及一阶滤波电路，其中，同相放大器将低噪声LDO芯片输出的2.5V电压放大至5V，利用一阶滤波电路对同相放大器输出的5V电压滤波，并将滤波后的5V电压加载到电压输出型DAC单元；嵌入式单元与电压输出型DAC单元适配连接，嵌入式单元将测试基准电压生成指令发送至电压输出型DAC单元，以配置电压输出型DAC单元基于测试基准电压生成指令生成对应的测试基准电压，并将生成的测试基准电压加载到低压差稳压LDO单元。

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