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一种双沟槽型碳化硅MOSFET器件 

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摘要:本实用新型公开了一种双沟槽型碳化硅MOSFET器件,包括外封装壳体以及外封装壳体顶端一体成型的呈拱形的上塑封壳,所述外封装壳体的底部安装有P型衬底,且所述P型衬底顶端的中心位置处设置有二氧化硅绝缘层,且所述二氧化硅绝缘层的上表面安装有多晶硅栅极,所述P型衬底顶端的两侧皆设置有扩散区N+。本实用新型通过设置C口屏蔽罩和增加铜箔,在一定程度上隔离外部的电磁干扰,以保护器件内部免受外界干扰的影响,从而提高器件的稳定性和可靠性,且器件在高频、高温、高压等苛刻工作条件下工作时,C口屏蔽罩和铜箔也可以有效提高器件的抗干扰能力。

主权项:1.一种双沟槽型碳化硅MOSFET器件,其特征在于:包括外封装壳体1以及外封装壳体1顶端一体成型的呈拱形的上塑封壳10,所述外封装壳体1的底部安装有P型衬底2,且所述P型衬底2顶端的中心位置处设置有二氧化硅绝缘层7,且所述二氧化硅绝缘层7的上表面安装有多晶硅栅极8,所述P型衬底2顶端的两侧皆设置有扩散区N+4,两个所述扩散区N+4的顶端分别安装有源极S5、漏极D6,所述上塑封壳10顶部的两侧皆粘接有C口屏蔽罩11,且所述C口屏蔽罩11的内部安装有铜箔1102。

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