Document
拖动滑块完成拼图
首页 专利交易 科技果 科技人才 科技服务 国际服务 商标交易 会员权益 IP管家助手 需求市场 关于龙图腾
 /  免费注册
到顶部 到底部
清空 搜索

石英膜采集颗粒物中的吸附误差确定方法和装置专利

买专利卖专利找龙图腾,真高效! 查专利查商标用IPTOP,全免费!专利年费监控用IP管家,真方便!

申请/专利权人:深圳大学

申请日:2024-11-29

公开(公告)日:2024-12-31

公开(公告)号:CN119224167A

专利技术分类:.柱色谱法〔4〕

专利摘要:本申请涉及一种石英膜采集颗粒物中的吸附误差确定方法和装置,该方法包括:对第一样品以及第二样品分别进行全二维气相色谱和质谱分析,得到对应于第一样品的第一矩阵以及对应于第二样品的第二矩阵;将第一矩阵和第二矩阵中处于相同位置的元素进行逐一比对;若第一矩阵中的元素小于第二矩阵中处于对应位置的元素,则将第一矩阵中的元素按照对应位置填充至第三矩阵;若第一矩阵中的元素大于或等于第二矩阵中处于对应位置的元素,则将第二矩阵中的元素按照对应位置填充至第三矩阵;基于第三矩阵计算吸附误差。通过本申请,解决了相关技术中无法精确对气态吸附误差进行定量从而导致对样品中的颗粒态有机物的定量准确度低的问题。

专利权项:1.一种石英膜采集颗粒物中的吸附误差确定方法,应用于确定颗粒物采样装置采样过程中出现的吸附误差,其中,所述颗粒物采样装置包括第一通道以及第二通道,所述第一通道包括特氟龙膜以及第一石英膜,所述第二通道包括第二石英膜,其特征在于,所述方法包括:对所述第一石英膜采集到的第一样品以及所述第二石英膜采集到的第二样品分别进行全二维气相色谱和质谱分析,得到对应于所述第一样品的第一矩阵以及对应于所述第二样品的第二矩阵;其中,所述第一矩阵中的元素表示所述第一样品中,处于挥发性区间且属于化合物种类的物质的含量;所述第二矩阵中的元素表示所述第二样品中,处于挥发性区间且属于化合物种类的物质的含量;将所述第一矩阵和所述第二矩阵中处于相同位置的元素进行逐一比对;若所述第一矩阵中的元素小于所述第二矩阵中处于对应位置的元素,则将所述第一矩阵中的元素按照所述对应位置填充至第三矩阵;若所述第一矩阵中的元素大于或等于所述第二矩阵中处于对应位置的元素,则将所述第二矩阵中的元素按照所述对应位置填充至第三矩阵;基于所述第三矩阵计算吸附误差。

百度查询: 深圳大学 石英膜采集颗粒物中的吸附误差确定方法和装置

免责声明
1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息,力求客观、公正,但并不保证数据的最终完整性和准确性。
2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解,仅供参考使用,不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。