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申请/专利权人：上海市计量测试技术研究院
申请日：2012-11-27
公开（公告）日：2013-05-29
公开（公告）号：CN202956305U
专利技术分类：..包括辐照的样品处理，例如，加热[2006.01]
专利摘要：本实用新型公开了一种辐射场用支架，包括支撑单元、样本放置单元；所述样本放置单元，为球冠型；球冠型的所述样本放置单元的球面上均匀设置有多个测试单元；所述样本放置单元，固定在所述支撑单元上。本实用新型的辐射场用支架，由于样本放置单元为球冠型，将放射源放置于球冠型的样本放置单元的球心位置附近，射线束中心对准球冠型的样本放置单元的中心进行辐照，由于放射源到达分布在球冠型的样本放置单元上的各个测试单元的距离基本相等，使得不同测试单元中的测试样品受射线的辐照强度均匀。
专利权项：一种辐射场用支架，包括支撑单元、样本放置单元；其特征在于，所述样本放置单元，为球冠型；球冠型的所述样本放置单元的球面上均匀设置有多个测试单元；所述样本放置单元，固定在所述支撑单元上。
百度查询： 上海市计量测试技术研究院 辐射场用支架
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