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一种基于FPGA实现的PROM可靠性测试系统 

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申请/专利权人:电子科技大学

摘要:本发明旨在为PROM的循环读写测试提供一种快速可靠的测试系统测试方案,具体涉及一种基于FPGA实现的PROM可靠性测试系统。本发明改变了传统测试系统的上位机下位机分工,具体来说,循环读写测试中多次测试产生的结果的统计处理比如计算单Bit错误在全部错误中的占比,这些工作全部在下位机完成,最终FPGA只向上位机发送最后的测试结果,通过这种方案大幅减少上位机下位机间的通信数据量,提高了整个测试系统的运行速度;并且在测试板PCB设计方面,提出将PROM插座和测试板底座分离连接,以提高该测试系统对不同测试项目的适应能力。

主权项:1.一种基于FPGA实现的PROM可靠性测试系统,其基本特征在于:FPGA程序包括通信串口模块、循环逻辑控制模块、PROM接口模块,测试过程中所有中间数据处理均在FPGA中而非上位机中完成、测试板底板和PROM的连接方式为可分离式连接。所述通信串口模块实现了UART串口通信协议,其输入信号为一bit信号uart_rx和一bit信号uart_tx,其中uart_rx信号为UART通信接收信号,uart_tx信号为UART通信发送信号,输出信号为一个START信号,其作用为指示整个测试系统开始工作,产生START的条件是uart_rx接受到上位机发送的特定单byte信号,比如十六进制数55。整个模块用于实现和上位机PC的串口通信;循环逻辑控制模块用于实现核心的测试功能,其从通信串口接收START信号后开始循环测试逻辑,利用FPGA自带的BRAM存储器,循环过程为先将整个PROM的数据全部存到一个与PROM等大的BRAM中,随后循环读一百万轮PROM,每轮读PROM的时候将PROM的值与BRAM中存放的PROM初始值进行对比,如果出错则记录出错情况和出错类型并在FPGA上进行出错分析,在循环读完100万轮PROM后,通过串口向上位机发送记录的出错统计结果;PROM接口模块是FPGA与PROM的端口通信模块,PROM与FPGA间的通信需要经过电平转换、DAC、运放等芯片的处理,这些处理都在PROM接口模块完成。

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权利要求:

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