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申请/专利权人:西安西谷微电子有限责任公司
摘要:本实用新型涉及芯片测试技术领域,具体涉及一种基于ATE的FLASHPROM的测试装置,其包括:测试基板,所述测试基板设有芯片连接座,所述芯片连接座适配有测试芯片,所述测试基板两侧分别固定设有与所述芯片连接座电性连接的J2连接器和J3连接器;所述J2连接器与所述芯片连接座之间电性连接有光耦和FPGA芯片;所述芯片连接座电性连接有电阻和电容;所述测试基板通过所述J2连接器和所述J3连接器与ATE测试机连接,并且所述J2连接器设有电能设置引脚,所述电能设置引脚包括A1、A2、A3。本实用新型通过改进的测试基板简化了SM32PFS48的测试过程,降低测试环境的开发和成本满足测试并比高测试速度和精度。
主权项:1.一种基于ATE的FLASHPROM的测试装置,其特征在于,包括:测试基板1,所述测试基板1设有芯片连接座2,所述芯片连接座2适配有测试芯片,所述测试基板1两侧分别固定设有与所述芯片连接座2电性连接的J2连接器3和J3连接器4;所述J2连接器3与所述芯片连接座2之间电性连接有光耦5和FPGA芯片6;所述芯片连接座2电性连接有电阻7和电容8;所述测试基板1通过所述J2连接器3和所述J3连接器4与ATE测试机连接,并且所述J2连接器3设有电能设置引脚9,所述电能设置引脚9包括A1、A2、A3。
全文数据:
权利要求:
百度查询: 西安西谷微电子有限责任公司 一种基于ATE的FLASH PROM的测试装置
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