买专利卖专利找龙图腾,真高效! 查专利查商标用IPTOP,全免费!专利年费监控用IP管家,真方便!
申请/专利权人:杭州广立微电子股份有限公司
摘要:本申请涉及一种网格状绕线薄弱点检测方法、装置和计算机设备。该方法包括:获取待检测的网格状绕线结构;其中,网格状绕线结构包括沿着第一方向的第一走线,第一方向为与电信号传输方向相同的方向;设置辅助条纹,并获取与辅助条纹相交的第一走线数量;基于第一走线数量,确定网格状绕线结构的走线薄弱点。采用本方法能够解决现有技术中走线薄弱点检测效率较低的问题。
主权项:1.一种网格状绕线薄弱点检测方法,其特征在于,所述方法包括:获取待检测的网格状绕线结构;其中,所述网格状绕线结构包括沿着第一方向的第一走线,所述第一方向为与电信号传输方向相同的方向;设置辅助条纹,并获取与所述辅助条纹相交的第一走线数量,所述设置辅助条纹包括,确定所述网格状绕线结构中包括的沿第二方向的第二走线,并删除所述网格状绕线结构中的第二走线;其中,所述辅助条纹在所述网格状绕线结构中均匀分布,所有所述辅助条纹的宽度相等,所述辅助条纹沿所述第二方向排列;基于所述第一走线数量,确定所述网格状绕线结构的走线薄弱点,包括,在所述网格状绕线结构中,所述第一走线数量小于预设的走线阈值的区域,确定为所述网格状绕线结构的走线薄弱点。
全文数据:
权利要求:
百度查询: 杭州广立微电子股份有限公司 网格状绕线薄弱点检测方法、装置和计算机设备
免责声明
1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息,力求客观、公正,但并不保证数据的最终完整性和准确性。
2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解,仅供参考使用,不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。