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申请/专利权人：中国科学院信息工程研究所
摘要：本发明提供一种克隆标签的检测方法及装置。所述方法包括：基于预定义的异常概率函数，确定在每个标签对应的轨迹序列中，每个所述标签在任意两个连续的检测点间的异常概率；遍历每个所述标签对应的轨迹序列，若所述标签在所有两个连续的所述检测点间的异常概率之和超过预设阈值，则所述标签为克隆标签。本发明提供的克隆标签的检测方法，通过预定义的异常概率函数，确定每个标签在对应轨迹序列中任意连续检测点间的异常概率，判断所述标签是否为克隆标签，检测的准确率和精度更高，在实际环境中更具有优势。
主权项：1.一种克隆标签的检测方法，其特征在于，包括：基于预定义的异常概率函数，确定在每个标签对应的轨迹序列中，每个所述标签在任意两个连续的检测点间的异常概率；遍历每个所述标签对应的轨迹序列，若所述标签在所有两个连续的所述检测点间的异常概率之和超过预设阈值，则所述标签为克隆标签；其中，所述每个标签对应的轨迹序列包括多个按照时间进行排序的运动数据，且每个运动数据包括：每个所述标签的标识ID，每个所述标签在所述检测点被读取的时间和所述检测点的标识ID；其中，所述基于预定义的异常概率函数，确定在每个标签对应的轨迹序列中，每个所述标签在任意两个连续的检测点间的异常概率之前，所述方法还包括：获取每个所述标签在每个固定的所述检测点的运动数据；基于时空关系模型，以及每个所述标签对应的轨迹序列，确定所有所述检测点间最小可达时间构成的最短可达时间矩阵，以基于所述最短可达时间矩阵确定所述标签在任意两个连续的检测点间的异常概率。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 中国科学院信息工程研究所 克隆标签的检测方法及装置
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