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一种通用型BGA封装测试夹具 

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申请/专利权人:江苏盐芯微电子有限公司

摘要:本实用新型涉及BGA封装测试的技术领域,特别是涉及一种通用型BGA封装测试夹具,其通过设置此设备,只需将芯片安装在卡装机构上,当芯片需要进行多种测试时,将芯片通过四组夹片固定在测试仪器上,操作较简单,无需重复对芯片进行装夹,提高了其测试效率;包括安装座、四组夹片、四组第一螺栓、转盘、第二螺栓、调节装置、翻转装置和卡装机构,第二螺栓对安装座顶紧,调节装置安装在转盘上,翻转装置安装在调节装置上,卡装机构安装在翻转装置上。

主权项:1.一种通用型BGA封装测试夹具,其特征在于,包括安装座1、四组夹片2、四组第一螺栓3、转盘4、第二螺栓5、调节装置、翻转装置和卡装机构,四组夹片2转动安装在安装座1底端的左前侧、左后侧、右前侧和右后侧,安装座1前端和后端的左侧和右侧均连通设置有螺纹孔,四组第一螺栓3与安装座1的四组螺纹孔螺纹连接,四组第一螺栓3对四组夹片2顶紧,转盘4转动安装在安装座1顶端,转盘4前端连通设置有螺纹孔,第二螺栓5与转盘4螺纹孔螺纹连接,第二螺栓5对安装座1顶紧,调节装置安装在转盘4上,翻转装置安装在调节装置上,卡装机构安装在翻转装置上。

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