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一种微波物料轮廓仪 

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申请/专利权人:北京锐达仪表有限公司

摘要:本发明公开一种微波物料轮廓仪,包括主机和至少一个测量模块;所述主机与所述测量模块通讯连接,所述测量模块包括支架结构和多个微波测量单元;多个所述微波测量单元呈阵列布设在支架结构上,至少用于测量一公共料面的轮廓。本发明的微波物料轮廓仪,采用微波测量单元呈阵列布设在支架结构上,测量一公共料面的轮廓,由于微波具有能够穿透灰尘环境对物料进行检测,从而实现对物料轮廓的有效检测,从而解决了现有采用激光、摄像头原理的物料轮廓仪难以实现对物料轮廓的有效检测的技术难题。

主权项:1.微波物料轮廓仪,其特征在于,包括主机和至少一个测量模块;所述主机与所述测量模块通讯连接,所述测量模块包括支架结构和多个微波测量单元;多个所述微波测量单元呈阵列布设在支架结构上,至少用于测量一公共料面的轮廓。

全文数据:

权利要求:

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