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基于DCAP单元的芯片ECO方法、装置和电子设备 

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申请/专利权人:上海壁仞科技股份有限公司

摘要:本发明提供一种基于DCAP单元的芯片ECO方法、装置和电子设备,涉及集成电路技术领域,所述方法包括:获取芯片对应的更新网表;基于所述更新网表,确定所述芯片上的至少一个待修正单元;针对各所述待修正单元,确定所述芯片上所述待修正单元对应的目标DCAP单元,并对所述目标DCAP单元对应的版图中的BEOL层进行修改,得到与所述待修正单元功能相同的目标功能单元,所述目标功能单元用于进行芯片ECO处理。本发明可利用芯片中已有的DCAP单元进行芯片ECO,节省芯片面积,避免芯片资源的浪费。

主权项:1.一种基于DCAP单元的芯片ECO方法,其特征在于,包括:获取芯片对应的更新网表;基于所述更新网表,确定所述芯片上的至少一个待修正单元;针对各所述待修正单元,确定所述芯片上所述待修正单元对应的目标DCAP单元,并对所述目标DCAP单元对应的版图中的BEOL层进行修改,得到与所述待修正单元功能相同的目标功能单元,所述目标功能单元用于进行芯片ECO处理;所述对所述目标DCAP单元对应的版图中的BEOL层进行修改,得到与所述待修正单元功能相同的目标功能单元,包括:获取所述目标DCAP单元对应的至少两个晶体管;响应用户的相关操作,确定所述至少两个晶体管对应的布线更新信息;基于所述布线更新信息,在FEOL层中各元件保持不变的情况下,确定所述FEOL层中包括的至少两个晶体管,对所述BEOL层中所述至少两个晶体管对应的至少一层金属互联层进行布线修改,以更新所述至少两个晶体管对应的管脚连接关系,得到与所述待修正单元功能相同的目标功能单元;所述确定所述芯片上所述待修正单元对应的目标DCAP单元,包括:基于所述待修正单元对应的类型,确定所述待修正单元对应的至少一个候选DCAP单元;基于所述待修正单元的第一位置,从所述至少一个候选DCAP单元中确定所述待修正单元对应的目标DCAP单元;所述基于所述待修正单元的第一位置,从所述至少一个候选DCAP单元中确定所述待修正单元对应的目标DCAP单元,包括:基于所述待修正单元的第一位置,以及所述至少一个候选DCAP单元各自对应的第二位置,分别确定各所述候选DCAP单元与所述待修正单元之间的间距;基于所有间距,从所述至少一个候选DCAP单元中确定所述待修正单元对应的目标DCAP单元。

全文数据:

权利要求:

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