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申请/专利权人：罗伯特·博世有限公司
摘要：本发明涉及用于确定关联准则的方法，以便汇总相同半导体器件的不同测试的测试结果。该方法包括以下步骤：S23适配模型、例如线性回归模型，使用所述模型用于预测测试数据，S24根据预测计算成本矩阵，S25将贪心实现应用于成本矩阵，以便获得新的关联准则并且多次重复这些步骤。
主权项：1.一种用于确定关联准则的方法，所述关联准则将来自第一参量的第一集合中的第一参量与来自第二参量的第二集合中的第二参量关联，所述方法包括以下步骤：初始化S21所述关联准则并且提供S21第一和第二集合；重复地执行步骤a-c：a训练S23机器学习系统，使得机器学习系统根据第一参量确定分别根据所述关联准则关联的第二参量；b确定S24所述机器学习系统根据第一参量的预测和第二参量之间的距离的集合；和c根据所确定的距离的集合优化S25所述关联准则，使得第一参量根据关联准则与第二参量的关联根据所确定的距离产生最小总距离，其中为了优化所述关联准则S25多次依次地执行以下步骤：i随机抽取所述机器学习系统的预测，并且选出与机器学习系统的所抽取的预测具有所确定的最小距离的那个第二参量；ii修改所述关联准则，使得所述关联准则将所选择的第二参量与确定所述机器学习系统的所抽取的预测所根据的那个第一参量关联；和iii从所确定的距离的集合中移除分别基于确定所述机器学习系统的所抽取的预测所根据的第一参量以及分别基于所选择的第二参量确定的距离。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 罗伯特·博世有限公司 在晶片上半导体构件的位置重建
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