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申请/专利权人：山东华芯半导体有限公司
摘要：本发明提供了一种NAND控制器芯片测试方法，进行功能项组合测试时采用随机选取NAND控制器的方式进行，即每测试一组功能组合，均在重新随机选取的NAND控制器上进行，直至所有功能组合均遍历完成。本发明测试时利用了芯片中所有NAND控制器模块的结构功能均相同这一特点，采用随机选择NAND控制器的思路使测试时间成倍减少，且芯片中集成的控制器数量越庞大，效果越明显。
主权项：1.一种NAND控制器芯片测试方法，其特征在于，包括步骤：（1）对所有NAND控制器模块的单一功能进行遍历测试；（2）列出所有功能组合项，选取其中一项功能组合，在所有NAND控制器模块中随机选一个进行测试；（3）重复步骤2，直至所有功能组合测试完毕；（4）若上述步骤中存在一个或多个NAND控制器未被使用，则随机选择一项或多项功能组合在未被使用的控制器上遍历测试。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 山东华芯半导体有限公司 一种NAND控制芯片的测试方法
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