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申请/专利权人：中科瑞测(天津)科技有限公司
摘要：本发明提供了一种高速灵活性测试的NANDFlash误码分析系统，首先，先由上位机模块向驱动控制模块发送测试指令，测试指令会令驱动控制模块开启对闪存芯片的测试。驱动控制模块接收到测试指令后，根据测试指令和测试时序，对闪存芯片进行测试，并且驱动控制模块根据测试情况，生成测试数据，驱动控制模块将生成的测试数据发送至上位机模块。在这一基础上，上位机模块接收测试数据并对接收到的测试数据进行解析处理，获取到解析后的结果，即测试结果。上位机模块设有实时记录机制，上位机模块会将测试结果汇总，形成可追踪的测试报告。根据测试报告，能够对闪存芯片的误码情况进行分析。
主权项：1.一种高速灵活性测试的NANDFlash误码分析系统，其特征在于，包括：上位机模块向驱动控制模块发送测试指令；基于所述测试指令和测试时序，所述驱动控制模块对闪存芯片进行测试，生成测试数据，所述驱动控制模块将所述测试数据发送至所述上位机模块；所述上位机模块接收所述测试数据，对所述测试数据解析处理，获取测试结果；基于所述测试结果，对所述闪存芯片的误码情况分析。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 中科瑞测(天津)科技有限公司 一种高速灵活性测试的NAND Flash误码分析系统
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