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申请/专利权人：安徽望辐药业有限公司
摘要：本发明的一种基于晶体有效高度的CZT探测器效率计算方法及设备，包括S1、准备所需的设备；准备241Am、152Eu、137Cs和60Co点状标准放射源简称点源以及CZT探测器；S2、调节CZT探测器工作参数，使其处于最佳工作状态；S3、测量241Am、152Eu、137Cs和60Co点源γ能谱；S4、基于步骤S3建立效率计算模型；S5、将CZT探测器结构标称参数作为效率计算模型的输入参数，计算探测效率；S6、调整CZT体晶体及探测器机构参数，再计算探测效率；S7、最后验证计算模型，模型确定后，用于计算CZT探测器的探测效率。本发明通过调整计算模型中的参数与实验数据反复对比的方法计算CZT晶体的有效高度，并将其作为计算模型的输入参数，测量和计算过程较简单，不需要复杂的模拟过程就可以得到准确的计算结果。
主权项：1.一种基于晶体有效高度的CZT探测器效率计算方法，其特征在于，包括以下步骤，S1、准备所需的设备；包括准备241Am、152Eu、137Cs和60Co点状标准放射源简称点源以及CZT探测器；S2、调节CZT探测器工作参数，使其处于最佳工作状态；S3、测量241Am、152Eu、137Cs和60Co点源γ能谱；S4、基于步骤S3建立效率计算模型；S5、将CZT探测器结构标称参数作为效率计算模型的输入参数，计算探测效率；S6、调整CZT体晶体及探测器机构参数，再计算探测效率；S7、最后验证计算模型，模型确定后，用于计算CZT探测器的探测效率；所述S2、调节CZT探测器工作参数，使其处于最佳工作状态，具体包括，将一枚137Cs点源放置在CZT探测器表面，测量137Cs发射的γ射线能谱；首先固定一个设定好的较小的信号成形时间，由小增大逐渐调节探测器工作电压，同时观察测得的γ射线能谱，计算662keV处全能峰的半高宽；当半高宽达到最小时，记录工作电压；之后在此工作电压下，调节信号成形时间，观察系统死时间和全能峰半高宽的变化，并最终确定一个最佳工作参数。
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