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申请/专利权人:弘润半导体(苏州)有限公司
摘要:本发明涉及半导体封装技术领域,且公开了多层堆叠半导体器件的封装方法与装置,其中的多层堆叠半导体器件的封装方法包括如下步骤:S1、装配:在半导体器件外侧装上堆叠架;S2、堆叠:将装有堆叠架的多个半导体器件依次放入封装机壳内进行堆叠;S3、封盖:将封装盖固定在封装机壳上方实现封闭;S4、散热:将散热风机安装在风封装机壳前方实现对半导体器件的通风散热。本发明设计合理,通过设置的堆叠机构可实现对多层芯片本体的堆叠封装,提升了封装效率的同时起到了缓冲减振保护的效果,且方便了空气的流通,从而提升散热性能。
主权项:1.多层堆叠半导体器件的封装方法,其特征在于,包括如下步骤:S1、装配:在半导体器件外侧装上堆叠架6;S2、堆叠:将装有堆叠架6的多个半导体器件依次放入封装机壳1内进行堆叠;S3、封盖:将封装盖2固定在封装机壳1上方实现封闭;S4、散热:将散热风机4安装在风封装机壳1前方实现对半导体器件的通风散热。
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