龙图腾网&IPTOP
- 微信扫码登录
- 账号密码登录
- 短信登录/注册
买专利卖专利找龙图腾，真高效！ 查专利查商标用IPTOP,全免费！专利年费监控用IP管家,真方便！
申请/专利权人：天津大学
摘要：本发明提供了一种用于丝绢文物的光损伤测试方法，包括以下步骤：S1、对待测试丝绢文物进行光辐照试验；S2、计算结晶度指数CFTIR＝A1263A1230+A1263，其中，CFTIR代表样品的结晶度指数，A1230和A1263则分别代表光谱为1230cm‑1和1263cm‑1处信号的特征峰面积；S3、对每一组样品对应的单色光源的波长和各自在每个辐照周期的曝光量进行多项式拟合，得到样品对波长和曝光量的相对响应率函数fλ,Q，其中，λ为波长，Q为曝光量；S4、提出样品在可见波段的照明损伤度计算方法：其中，D为照明损伤度，Sλ为照射光源的相对光谱功率分布。
主权项：1.一种用于丝绢文物的光损伤测试方法，其特征是，包括以下步骤：S1、对待测试丝绢文物进行光辐照试验：将相同的待测试丝绢文物的样品分为M组，将每一组样品分别放置在不同频率的单色光源下进行照射，并且分别实时监测每个单色光源的相对光谱功率分布，其中，M为正整数；S2、计算结晶度指数：将总的辐照时长等分为N个辐照周期，记录每个辐照周期的结晶度指数和曝光量，其中，N为正整数，所述结晶度指数的计算方法如下：CFTIR＝A1263A1230+A1263其中，CFTIR代表样品的结晶度指数，A1230和A1263则分别代表光谱为1230cm-1和1263cm-1处信号的特征峰面积；S3、获得相对响应率函数：根据每一组样品在每一个辐照周期所采集到的各数据点对应的CFTIR计算结果，以λ为X轴，Q为Y轴，CFTIR为Z轴创建可视化的样品相对响应率的拟合曲线，从而得到样品对波长和曝光量的相对响应率函数fλ,Q，其中，λ为波长，Q为曝光量；S4、获得样品在可见波段的照明损伤度计算方法： 其中，D为照明损伤度，Sλ为照射光源的相对光谱功率分布。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 天津大学 一种用于丝绢文物的光损伤测试方法
免责声明
1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息，力求客观、公正，但并不保证数据的最终完整性和准确性。
2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。
主营中国专利交易买卖与专利转让许可,高校科技成果推广与科技成果转化,知识产权运营管理与平台开发,科技人才专家库与科技猎头等科技服务
开放平台
担保交易
惠及多方
会员特惠
专属平台
适合多方
数据共享
功能齐全
皖公网安备 34010402703815号