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半导体结构及其形成方法 

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申请/专利权人:芯盟科技有限公司

摘要:一种半导体结构及其形成方法,其中方法包括:在所述第一凹槽内形成字线栅极结构;在所述第一面上形成若干位线,所述位线平行于第三方向,且沿第一方向排布,各条所述位线与若干有源区电连接;自所述第二面对所述衬底进行减薄处理,直到暴露出所述第一隔离层表面;所述减薄处理后,在所述各有源区内形成若干第二隔离层,所述第二隔离层自所述第二面向所述第一面延伸,所述第二隔离层位于相邻的所述字线栅极结构之间,且所述第二隔离层在沿所述第一方向上贯穿若干有源区;形成所述第二隔离层后,在所述第二面上形成若干电容,每个所述有源区与若干电容电连接,所形成的半导体结构,单位存储单元占据的面积较小,提高了芯片的集成化水平。

主权项:1.一种半导体结构,其特征在于,包括:衬底,所述衬底具有相对的第一面和第二面,所述衬底包括若干沿第一方向排布的有源区和第一隔离层,所述第一隔离层位于相邻有源区之间,各有源区在所述第一面或所述第二面的投影图形为平行四边形,且所述平行四边形具有长边,所述长边方向平行于第二方向,所述第二方向与所述第一方向呈锐角夹角;位于所述衬底内的若干第一凹槽,所述第一凹槽自第一面向第二面延伸,所述若干第一凹槽沿第三方向排布,且所述第一凹槽沿第一方向贯穿若干有源区,所述第三方向与所述第一方向相互垂直;位于所述第一凹槽内的字线栅极结构;位于所述第一面上的若干位线,所述位线平行于第三方向,且沿第一方向排布,各条所述位线与若干有源区电连接;位于所述各有源区内的若干第二隔离层,所述第二隔离层自所述第二面向所述第一面延伸,所述第二隔离层位于相邻的所述字线栅极结构之间,且所述第二隔离层在沿所述第一方向上贯穿若干有源区;位于第二面上的若干电容,每个所述有源区与若干电容电连接。

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