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摘要：本发明提供改进的用于宽禁带半导体功率器件的测试装置，包括底部箱座，翻转中空箱盖，翻折拉伸板，端部支架，端部升降架结构，支撑挡板，半导体检测仪主体，收纳凹槽，导线固定架结构，接头更换架结构，翻转把手，锁扣，固定轴杆，插拔支撑架结构和定位插孔，所述的翻转中空箱盖合页连接在底部箱座的上部左侧；所述的翻折拉伸板一端连接底部箱座，另一端连接翻转中空箱盖；所述的端部支架一体化设置在底部箱座的内侧下部；所述的端部升降架结构安装在底部箱座的内侧上部。本发明翻转安装板、支撑挡板和固定轴杆的设置，有利于对翻转安装板进行支撑，并且固定轴杆起到支撑的同时翻转安装板的右侧可以上下翻转。

主权项：1.改进的用于宽禁带半导体功率器件的测试装置，其特征在于，该改进的用于宽禁带半导体功率器件的测试装置，包括底部箱座1，翻转中空箱盖2，翻折拉伸板3，端部支架4，端部升降架结构5，支撑挡板6，半导体检测仪主体7，收纳凹槽8，导线固定架结构9，接头更换架结构10，翻转把手11，锁扣12，固定轴杆13，插拔支撑架结构14和定位插孔15，所述的翻转中空箱盖2合页连接在底部箱座1的上部左侧；所述的翻折拉伸板3一端连接底部箱座1，另一端连接翻转中空箱盖2；所述的端部支架4一体化设置在底部箱座1的内侧下部；所述的端部升降架结构5安装在底部箱座1的内侧上部；所述的支撑挡板6一体化设置在底部箱座1的内部右侧；所述的半导体检测仪主体7设置在端部升降架结构5的上部；所述的收纳凹槽8开设在翻转中空箱盖2的内部左侧；所述的导线固定架结构9安装在翻转中空箱盖2的内部左侧；所述的接头更换架结构10设置在翻转中空箱盖2内侧后端的上部；所述的翻转把手11轴接在翻转中空箱盖2的上部；所述的锁扣12分别螺钉连接在翻转中空箱盖2的上部右侧和底部箱座1的右侧上部；所述的插拔支撑架结构14安装在翻转中空箱盖2的内侧左下部；所述的定位插孔15分别开设在底部箱座1的右上部前后两端；所述的固定轴杆13设置在底部箱座1的内部左侧；所述的端部升降架结构5包括翻转安装板51，倾斜支撑杆52，螺纹套管53，连接耳板54，螺纹滑动杆55和调节旋钮56，所述的倾斜支撑杆52设置在翻转安装板51的下部右侧；所述的螺纹套管53设置在翻转安装板51的下部右侧；所述的连接耳板54分别轴接在倾斜支撑杆52的左右两侧；所述的螺纹滑动杆55螺纹连接在螺纹套管53的内侧；所述的调节旋钮56螺栓连接在螺纹滑动杆55的右侧；所述的导线固定架结构9包括上下挡板91，侧面固定板92，矩形通孔93和弹性绷带94，所述的侧面固定板92分别焊接在上下挡板91的内侧前后两端；所述的矩形通孔93开设在上下挡板91的内部右侧；所述的弹性绷带94套接在矩形通孔93的内侧；所述的接头更换架结构10包括端部固定座101，卡接凹槽102，硬质橡胶板103，连接凹槽104和海绵套105，所述的卡接凹槽102开设在端部固定座101的内侧；所述的硬质橡胶板103设置在端部固定座101的内侧；所述的连接凹槽104开设在硬质橡胶板103的内侧前端；所述的海绵套105胶接在连接凹槽104的内侧；所述的插拔支撑架结构14包括条型旋转板141，限位插槽142，弹性硅胶垫143，圆柱插杆144，支撑垫板145和拿取凹槽146，所述的限位插槽142分别开设在条型旋转板141的上部前后两端；所述的弹性硅胶垫143放置在限位插槽142的内侧下部；所述的圆柱插杆144插接在限位插槽142的内侧上部；所述的支撑垫板145的下部前后两端分别与圆柱插杆144的上部一体化设置；所述的拿取凹槽146开设在支撑垫板145的内侧上部。

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百度查询： 清华大学无锡应用技术研究院 无锡麟力科技有限公司 改进的用于宽禁带半导体功率器件的测试装置