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申请/专利权人：北京智芯微电子科技有限公司
摘要：本发明涉及集成电路测试技术领域，公开了一种芯片安全检测方法及装置。首先，基于寄存器传输级代码得到获取控制流图和数据依赖图，其中，控制流图包括节点和节点之间的关系，节点表示寄存器传输级代码中的语句，数据依赖图表示寄存器传输级代码中数据之间的依赖关系。然后，基于控制流图进行特征提取，得到节点特征数据以及基于控制流图和数据依赖图进行特征提取，得到变量特征数据。最后，将节点特征数据和变量特征数据输入机器学习模型中进行检测，得到安全检测结果。通过基于寄存器传输级代码得到的获取控制流图和数据依赖图进行特征提取简化了语义特征的提取过程，提升芯片设计安全漏洞检测即芯片安全检测的效率。
主权项：1.一种芯片安全检测方法，其特征在于，所述芯片能够通过执行寄存器传输级代码进行数据处理，所述方法包括：获取控制流图和数据依赖图，其中，所述控制流图和所述数据依赖图基于所述寄存器传输级代码得到，所述控制流图包括节点和节点之间的关系，所述节点表示所述寄存器传输级代码中的语句，所述数据依赖图表示所述寄存器传输级代码中数据之间的依赖关系；基于所述控制流图进行特征提取，得到节点特征数据；基于所述控制流图和所述数据依赖图进行特征提取，得到变量特征数据；将所述节点特征数据和所述变量特征数据输入机器学习模型中进行检测，得到安全检测结果。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 北京智芯微电子科技有限公司 芯片安全检测方法及装置
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