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一种高透光、低发射率的银纳米线薄膜的制备方法 

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申请/专利权人:南京航空航天大学

摘要:本发明公开了一种高透光、低发射率的银纳米线薄膜的制备方法,属于光电材料技术领域,本发明利用L‑抗坏血酸温和的还原能力来清洗银纳米线薄膜,清洗条件为:L‑抗坏血酸溶液的浓度为0.19‑0.3moLL,温度为15‑25℃,时间为120‑250s;通过使用L‑抗坏血酸破坏PVP分子链上羰基氧和银原子之间的银氧键,在保持银纳米线网络形态和基材之间附着力的前提下,有效降低银纳米线接触电阻从而提升导电能力,最终获得兼具高透光率和低发射率特性的银纳米线薄膜,成为面向可见光‑红外兼容伪装的一种极具潜力的光电材料。

主权项:1.一种高透光、低发射率的银纳米线薄膜的制备方法,其特征在于,包括以下步骤:制备银纳米线悬浮液;将制得的银纳米线悬浮液喷涂在基板上,得到银纳米线薄膜;配置L-抗坏血酸溶液,将银纳米线薄膜放入溶液中,低温条件下保温,去除银纳米线薄膜表面的聚乙烯吡咯烷酮;洗涤干燥后得到干净的银纳米线薄膜。

全文数据:

权利要求:

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