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一种新型高线性度纳米线沟道器件及其制备方法 

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申请/专利权人:西安电子科技大学;西安电子科技大学广州研究院

摘要:一种新型高线性度纳米线沟道器件及其制备方法,结构包括由下至上依次层叠设置的衬底层、GaN缓冲层和AlGaNAlN势垒层,AlGaNAlN势垒层两端分别沉积源、漏电极,势垒层上近源电极一侧沉积梭形栅极,势垒层上设置若干纳米线沟道,源接入区形成n型重掺杂,梭形栅极两侧沉积侧墙;方法包括依次层叠的衬底层、缓冲层和势垒层;势垒层上两端分别制备源、漏电极;器件表面沉积Si3N4掩膜层;源漏之间形成若干间隔排列的条状掩膜层;光刻后显影出梭形栅的轮廓;去掉栅区域的掩膜层,露出间隔排列的凹槽,形成Fin‑HEMT结构;间隔排列的凹槽上制备梭形栅极;去掉器件表面的掩膜层;梭形栅极边缘形成侧墙,源接入区进行离子注入形成n型重掺杂;本发明具有高线性度、工艺简单的优点。

主权项:1.一种新型高线性度纳米线沟道器件,其特征在于,包括由下至上依次层叠设置的衬底层1、GaN缓冲层2和AlGaNAlN势垒层3,所述AlGaNAlN势垒层3的两端分别沉积有源电极4和漏电极5,位于AlGaNAlN势垒层3上的靠近源电极4一侧沉积有梭形栅极6,AlGaNAlN势垒层3上沿着栅宽方向设置中间宽两边窄的若干纳米线沟道10,梭形栅极6包围纳米线沟道10,纳米线沟道10的源接入区进行离子注入形成n型重掺杂8,梭形栅极6的两侧沉积有侧墙7。

全文数据:

权利要求:

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