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申请/专利权人：中国航发航空科技股份有限公司
摘要：本发明的评估零件缺陷荧光显示的测量工具，适用于暗室环境中对航空用零件的缺陷尺寸进行检测或测量，包括直尺和多个测量尺，所述直尺的一端与任意一个所述测量尺的一端以相对可转动的方式设置，另一端均为自由端；所有所述测量尺的自由端均设置有台阶结构，且任意一个测量尺上的台阶结构的尺寸与其它测量尺上的台阶结构的尺寸均不相同，及每个所述台阶结构分别对应零件验收标准的不同等级，通过所述台阶结构能够测量或检测零件上缺陷的尺寸参数，提高了使用效率。
主权项：1.一种评估零件缺陷荧光显示的测量工具，适用于暗室环境中对航空用零件的缺陷尺寸进行检测或测量，其特征在于，包括直尺和多个测量尺，其中，所述直尺的一端与任意一个所述测量尺的一端以相对可转动的方式设置，另一端均为自由端；所有所述测量尺的自由端均设置有台阶结构，且任意一个测量尺上的台阶结构的尺寸与其它测量尺上的台阶结构的尺寸均不相同，及每个所述台阶结构分别对应零件验收标准的不同等级，通过所述台阶结构能够测量或检测零件上缺陷的尺寸参数。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 中国航发航空科技股份有限公司 评估零件缺陷荧光显示的测量工具
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