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申请/专利权人:重庆建安仪器有限责任公司
摘要:本发明公开了一种LIF荧光检测方法,基于LIF荧光检测系统进行,通过电驱调整座来调整高反镜的位置和朝向,进而调整激光束的朝向以及与样品粒子束流的横向距离,相较于手动调整激光器,不仅操作简单且调整更为精确;检测时,先通过目视观察口粗略观察激光束相对样品粒子束流的位置,通过电驱调整座快速调整使激光束与样品粒子束流大致重合,然后通过设置在仪器观察口处的光谱仪检测荧光的光谱强度,同时慢调高反镜直至光谱强度达到峰值,使激光束与样品粒子束流完全重合;采用先粗调后精调的调整方式,有利于降低调整耗时,记录的荧光光谱的信噪比较高,有利于提高检测的准确度。
主权项:1.一种LIF荧光检测方法,其特征在于:所述LIF荧光检测方法使用LIF荧光检测系统,LIF荧光检测系统包括壳体,壳体内竖向设有呈圆柱状的腔室,壳体具有与腔室上端的中心竖向连通的粒子射入口,壳体上于粒子射入口处设有粒子发射器;壳体具有与腔室横向连通的激光射入口,壳体外于激光射入口所在的一侧设有激光入射装置并包括激光器和高反镜,高反镜用于反射激光器射出的激光束,使激光束从激光射入口横向射入腔室,高反镜设于电驱调整座上,电驱调整座用于调整高反镜位置和朝向;壳体具有与腔室横向连通的观察口,观察口与激光射入口距离腔室上端的距离相同,观察口有两个、分别为目视观察口和仪器观察口,壳体上于仪器观察口处设有光谱仪;所述LIF荧光检测方法包括如下步骤:1)启动粒子发射器,通过粒子射入口向腔室内竖向射入样品粒子形成样品粒子束流,启动激光器,通过激光射入口向腔室内横向射入激光束;2)通过电驱调整座调整高反镜,直至通过目视观察口目视观察到激光束与样品粒子束流重合发出荧光;3)通过电驱调整座调整高反镜,直至通过光谱仪检测到荧光的光谱强度达到峰值;4)记录荧光光谱,以用于识别和分析样品组分和比例。
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