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申请/专利权人:无锡芯启博科技有限公司
摘要:本发明公开了一种芯片晶圆测试台的固定设备,本发明涉及芯片晶圆测试技术领域。具体包括:测试台,所述测试台的外部固定连接有固定架,所述测试台的顶部固定连接有固定框;该芯片晶圆测试台的固定设备还包括:测试机构,用于调整测试装置的位置对晶圆进行测试,所述测试机构固定连接在固定架的外部,所述测试机构包括滑轨,所述滑轨的内部滑动连接有第一滑板,所述第一滑板的顶部固定连接有工位架,所述工位架的内部卡合连接有测试器,所述滑轨开设在固定架的顶部;固定机构,用于放置两个尺寸的晶圆并带动晶圆移动,所述固定机构固定连接在固定管的外部,该芯片晶圆测试台的固定设备,达到了提高设备的使用效率的目的。
主权项:1.一种芯片晶圆测试台的固定设备,具体包括:测试台1,其特征在于:所述测试台1的外部固定连接有固定架2,所述测试台1的顶部固定连接有固定框4;该芯片晶圆测试台的固定设备还包括:测试机构3,用于调整测试装置的位置对晶圆进行测试,所述测试机构3固定连接在固定架2的外部,所述测试机构3包括滑轨301,所述滑轨301的内部滑动连接有第一滑板303,所述第一滑板303的顶部固定连接有工位架304,所述工位架304的内部卡合连接有测试器314,所述滑轨301开设在固定架2的顶部;固定机构5,用于放置两个尺寸的晶圆并带动晶圆移动,所述固定机构5固定连接在固定管305的外部,所述固定机构5包括第二滑板503,所述第二滑板503的顶部固定连接有竖板504,所述竖板504的内部转动连接有第二固定柱505,所述第二固定柱505的外部固定连接有放置组件506,所述第二滑板503滑动连接在固定框4的内部。
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